1.HALT/HASS高加速壽命試驗/高加速應(yīng)力篩選測試簡介
HALT(Highly Accelerated Life Test，高加速壽命試驗)-HASS(Highly Accelerated Stress Screening，高加速應(yīng)力篩選)、這是一種能夠提高產(chǎn)品可靠性的測試手段，HALT/HASS 是由美國軍方所延伸出的設(shè)計質(zhì)量驗證與制造質(zhì)量驗證的試驗方法，現(xiàn)已成為美國電子業(yè)界的標準產(chǎn)品驗證方法。它將原需花費6 個月甚至1 年的新產(chǎn)品可靠性試驗縮短至一周，且在這一周中所發(fā)現(xiàn)的產(chǎn)品問題幾乎與客戶應(yīng)用后所發(fā)現(xiàn)的問題一致，故HALT/HASS 的試驗方式已成為新產(chǎn)品上市前所必需通過的驗證。在美國之外，許多國際的3C 電子產(chǎn)品大廠也都使用相同或類似的手法來提升產(chǎn)品質(zhì)量。
HALT 是一種通過讓被測物承受不同的應(yīng)力、進而發(fā)現(xiàn)其設(shè)計上的缺限，以及潛在弱點的實驗方法。加諸于產(chǎn)品的應(yīng)力有振動，高低溫，溫度循環(huán)，電力開關(guān)循環(huán)，電壓邊際及頻率邊際測試等。HALT 應(yīng)用于產(chǎn)品的研發(fā)階段，能夠及早地發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品可靠性的薄弱環(huán)節(jié)。包含以下內(nèi)容:
a、逐步施加應(yīng)力直到產(chǎn)品失效或出現(xiàn)故障;
b、采取臨時措施，修正產(chǎn)品的失效或故障;
c、繼續(xù)逐步施加應(yīng)力直到產(chǎn)品再次失效或出現(xiàn)故障，并再次加以修正;
d、重復(fù)以上應(yīng)力-失效-修正的步驟;
e、找出產(chǎn)品的基本操作界限和基本破壞界限。
HASS應(yīng)用于產(chǎn)品的生產(chǎn)階段，以確保所有在HALT 中找到的改進措施能夠得到實施。
HASS 包含如下內(nèi)容:
a、進行預(yù)篩選、剔除可能發(fā)展為明顯缺陷的隱性缺陷;
b、進行探測篩選、找出明顯缺陷;
c、故障分析;改進措施。
2.HALT/HASS高加速壽命試驗/高加速應(yīng)力篩選測試范圍
| 產(chǎn)品范圍 | 測試項目 |
| 電工電子產(chǎn)品及其電子部件、印制電路板組件 | GMW 8287 Revision / Edition: 2 《HIGHLY ACCELERATED LIFE TESTING (HALT) HIGHLY ACCELERATED STRESS SCREENING AND AUDITING》 GB/T 29309-2012 《電工電子產(chǎn)品加速應(yīng)力試驗規(guī)程高加速壽命試驗導則》 |
| 汽車電子電氣零部件 | 依次進行以下步驟: 1、常溫性能測試 2、溫度均勻性測試 3、低溫步進試驗 4、高溫步進試驗 5、快速溫變循環(huán)試驗 6、振動步進試驗 快速溫變循環(huán)與振動步進綜合試驗 |
3.HALT/HASS高加速壽命試驗/高加速應(yīng)力篩選測試特點
一般來說HALT試驗需要客戶技術(shù)人員與XKT測試專家一起進行，便于及時分析產(chǎn)品出現(xiàn)故障原因。具體測試流程參考下表:
