GB/T 2423.1 是《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 A：低溫》標(biāo)準，該標(biāo)準規(guī)定了熱敏電阻等電工電子產(chǎn)品的低溫檢測方法。具體如下：
試驗?zāi)康?/span>：確定熱敏電阻在低溫環(huán)境下使用、運輸或貯存的能力。
試驗方法：該標(biāo)準的低溫試驗方法細分為試驗 Ab、試驗 Ad 和試驗 Ae。其中，試驗 Ab 用于非散熱試驗樣品，試驗 Ad 和試驗 Ae 用于散熱試驗樣品，試驗 Ae 要求在整個試驗過程包括降溫調(diào)節(jié)期間都要通電運行。
嚴酷等級：相關(guān)規(guī)范應(yīng)規(guī)定由溫度和試驗持續(xù)時間表示的試驗嚴酷等級，溫度可選 - 65℃、-55℃、-50℃、-40℃、-33℃、-25℃、-20℃、-10℃、-5℃、+5℃，持續(xù)時間可選 2h、16h、72h、96h。
試驗步驟：首先對熱敏電阻進行初始檢測，包括外觀檢查和性能測試；然后將其放入低溫試驗箱中，按照規(guī)定的溫度變化速率將溫度降至規(guī)定的低溫值，并保持相應(yīng)的持續(xù)時間；試驗過程中可根據(jù)要求進行中間檢測；最后進行最終檢測，再次對熱敏電阻進行外觀檢查和性能測試，與初始檢測結(jié)果進行比較，評估其在低溫環(huán)境下的性能變化。
