射頻標(biāo)簽可靠性試驗(yàn)常見測試項(xiàng)目，射頻識別（RFID）技術(shù)是20世紀(jì)90年代開始興起的一種非接觸的自動識別技術(shù)，它是利用射頻信號和空間耦合或雷達(dá)反射的傳輸特性，實(shí)現(xiàn)對被識別物體的自動識別。與傳統(tǒng)的磁卡、IC卡相比，該技術(shù)的最大優(yōu)點(diǎn)在于遠(yuǎn)間隔和非接觸識別，因此完成識別工作時無須人工干預(yù)，適合于實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)的自動化且不易損壞，可識別高速運(yùn)動物體，操縱快捷方便。

RFID電子標(biāo)簽可靠性試驗(yàn)項(xiàng)目：

1、電磁兼容抗干擾試驗(yàn)

靜電放電抗擾度試驗(yàn)：接觸放電+15kV，空氣放電+15kV，放電次數(shù)正負(fù)極性各10次。工頻磁場試驗(yàn)：測試端口外殼端口，磁場強(qiáng)度1000A/m，測試方向X，Y，Z三個軸向。

脈沖磁場試驗(yàn)：測試端口外殼端口，磁場強(qiáng)度1000A/m，試驗(yàn)次數(shù)正負(fù)極性各10次，測試方向X，Y，Z三個軸，向。

射頻電磁場輻射試驗(yàn)：試驗(yàn)等級3級，測試頻率80MHz-1000MHz，試驗(yàn)場強(qiáng)10V/m。

阻尼振蕩磁場試驗(yàn)：試驗(yàn)等級5級，磁場強(qiáng)度100A/m。

2、環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)

低溫試驗(yàn)：-40℃，穩(wěn)定2小時，試驗(yàn)后讀取數(shù)據(jù)。

低溫貯存試驗(yàn)：-50C，貯存16h，試驗(yàn)后讀取數(shù)據(jù)。

高溫試驗(yàn)：+75℃，溫度2小時，試驗(yàn)后讀取數(shù)據(jù)。

高溫貯存試驗(yàn)：+85℃，溫度2小時，試驗(yàn)后讀取數(shù)據(jù)。

溫度循環(huán)試驗(yàn)：-40℃~+85℃，高低溫各保持3小時，溫度變化速率1oct/min，循環(huán)5次。

恒定濕熱試驗(yàn)：溫度+85℃，濕度95%，貯存48小時，恢復(fù)到常溫保持2小時，讀取樣品數(shù)據(jù)。鹽霧試驗(yàn)：溫度35℃，5%NACL溶液，連續(xù)噴霧48小時，試驗(yàn)后，外殼涂層不應(yīng)出現(xiàn)銹蝕現(xiàn)象。

振動試驗(yàn)：10Hz-150Hz，加速度10m/s2，每方向振動1小時。

機(jī)械沖擊試驗(yàn)：沖擊波形半正弦波，加速度147m/s2，脈沖寬度11ms，試驗(yàn)后應(yīng)能讀取樣品數(shù)據(jù)。

3、防塵防水試驗(yàn)

IPX8防水試驗(yàn)：水深2米，試驗(yàn)1小時，開蓋檢查，殼體內(nèi)部沒有進(jìn)水。

IP6X防塵試驗(yàn)：抽負(fù)壓，沙塵箱中試驗(yàn)8小時，開蓋檢查，殼體內(nèi)部沒有進(jìn)塵。

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