氣候環(huán)境可靠性介紹 是指為整機(jī)、電工電子元器件或材料提供的一種人工模擬氣候環(huán)境條件或加速試驗(yàn)條件，以評估實(shí)際使用環(huán)境對產(chǎn)品或材料性能的預(yù)期影響，目的在于暴露產(chǎn)品在元器件選擇、結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)以及工藝方面的缺陷，以改進(jìn)產(chǎn)品的環(huán)境適應(yīng)性能力。氣候環(huán)境試驗(yàn)一般分為模擬試驗(yàn)和加速試驗(yàn)兩種，如常規(guī)的高低溫儲(chǔ)存試驗(yàn)為環(huán)境模擬試驗(yàn)，試驗(yàn)周期較長；而快速溫變試驗(yàn)或HALT試驗(yàn)等則為加速試驗(yàn)，可以明顯縮短環(huán)境可靠性試驗(yàn)周期，快速暴露出產(chǎn)品在使用壽命周期內(nèi)的缺陷。大多數(shù)產(chǎn)品在定型前都需要進(jìn)行環(huán)境可靠性試驗(yàn)，以評估其在使用環(huán)境條件下的長期適應(yīng)性。

       依據(jù)國內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)提供溫濕度試驗(yàn)、光老化試驗(yàn)、氣體腐蝕試驗(yàn)、防塵防水試驗(yàn)等多項(xiàng)環(huán)境可靠性試驗(yàn)，涵蓋了氣候環(huán)境試驗(yàn)、機(jī)械環(huán)境試驗(yàn)及綜合環(huán)境試驗(yàn)的絕大部分項(xiàng)目，能滿足GJB、GB、GB/T、IEC、ISO、EN、MIL-STD、SAE、ASTM、ISTA、JIS、IPC、JEDEC、GM、NISSAN等各種國際、國內(nèi)環(huán)境及可靠性試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)要求

       氣候環(huán)境類試驗(yàn)項(xiàng)目：高溫測試、低溫測試試、快速溫變測試、冷熱沖擊測試、溫濕度循環(huán)測試、高加速壽命測試、低氣壓測試、鹽霧測試、氙燈老化測試、紫外線老化測試、太陽輻射測試、防水測試、防塵測試、臭氧測試、霉菌測試、氣體腐蝕測試、高壓蒸煮測試、結(jié)露測試等。

       氣候環(huán)境類試驗(yàn)應(yīng)用范圍：電子產(chǎn)品、電器、汽車零部件、新能源項(xiàng)目、移動(dòng)通信、PCB/PCBA、橡膠/塑料、鍍層/涂層、包裝材料、LED、金屬材料及零部件等范圍。